BAB I PENDAHULUAN. A. Latar Belakang Masalah
|
|
- Glenna Tedja
- 6 tahun lalu
- Tontonan:
Transkripsi
1 BAB I PENDAHULUAN A. Latar Belakang Masalah Perkembangan ilmu pengetahuan dan teknologi sangat pesat. Hal ini dapat dilihat dari banyaknya alat teknologi yang diciptakan untuk mempermudah pekerjaan manusia. Dalam pengkarakteristikan bahan ditemukannya alat seperti mikroskop, XRD, SEM, dan lain sebagainya. Salah satu alat yang akan dibahas dalam makalah ini adalah SEM (Scanning Electrone Microcopy) yakni Mikroskop Pemindai Elektron. Mikroskop Pemindai Elektron Merupakan Mikroskop yang menggunakan hamburan elektron dalam membentuk bayangan Elektron berinteraksi dengan atom-atom yang membentuk sampel menghasilkan sinyal yang berisi informasi tentang topografi permukaan sampel, komposisi dan sifat-sifat lain seperti konduktivitas listrik. Sehinga sangat cocok untuk mengkarakteristikan suatu bahan. Mikroskop Pemindai Elektron memiliki beberapa komponen yang lebih kompleks jika dibandingkan dengan mikroskop pada umumnya dimana memiliki tata cara penggunaan yang berbeda serta perlakuan sampel yang agak berbeda pula sebelum dilakukan pemindaian menggunakan mikroskop ini. B. Tujuan Adapun tujuan dari penulisan makalah ini yaitu untuk mengetahui dan memahami salah satu pengkarakteristikan bahan, dalam kasus ini menggunakan Scanning Elektron Microscopy (SEM), meliputi Komponen komponen, tata cara penggunaannya dan perlakuan untuk menggunakan mikroskop ini. C. Metode Penulisan Penulis mempergunakan metode observasi dan kepustakaan. Cara-cara yang digunakan pada penelitian ini adalah : Studi Pustaka Dalam metode ini penulis membaca buku-buku yang berkaitan denga penulisan makalah ini yang diperoleh dari internet dan sumber literature lainya. 1
2 BAB II PEMBAHASAN Mikroskop Pemindai Elektron Mikroskop Pemindai Elektron (SEM) adalah jenis mikroskop elektron yang gambar permukaan sampel dipindai dengan menggunakan sinar elektron berenergi tinggi dalam pola pemindai pixel. Mikroskop Pemindai Elektron (SEM) adalah microscope yang menggunakan hamburan elektron dalam membentuk bayangan Elektron berinteraksi dengan atom-atom yang membentuk sampel menghasilkan sinyal yang berisi informasi tentang topografi permukaan sampel, komposisi dan sifat-sifat lain seperti konduktivitas listrik. Alat ini memiliki banyak keuntungannya jika dibandingkan dengan menggunakan mikroskop cahaya. SEM menghasilkan bayangan dengan resolusi yang tinggi, yang maksudnya adalah pada jarak yang sangat dekat tetap dapat menghasilkan perbesaran yang maksimal tanpa memecahkan gambar. Persiapan sampel relatif mudah. Kombinasi dari perbesaran kedalaman jarak focus, resolusi yang bagus, dan persiapan yang mudah, membuat SEM merupakan satu dari alat-alat yang sangat penting untuk digunakan dalam penelitian saat ini. Beberapa persoalan yang dibahas dalam memahami tata cara penggunaan Mikroskop Pemindai Elektron (SEM) adalah sebagai berikut; A. Sumber Elektron Elektron disemburkan dari sebuah filamen, yang dibuat dari bermacam-macam material, salah satunya adalah Tungsten hair pin gun. Filamen ini adalah sebuah loop tungsten yang berfungsi sebagai katoda. Sebuah tegangan di berikan kepada loop, yang menyebabkan loop menjadi panas. Sebuah anode, yang bermuatan lebih positif daripada filament, dipasang sedemikian rupa, sehingga keadaan demikian membuat elektron memiliki gaya yang sangat kuat. Hal ini akan mengakibatkan elektron dipercepat menuju anoda. Sebagian elektron yang dipercepat menerobos lubang pada anoda sebagai pancaran elektron (electron beam). Beberapa contoh filamen antara lain : Lanthanum Hexaboride filaments and field emission guns. 2
3 Gambar 3 : Sumber elektron dibangkitkan dengan sumber tegangan tinggi B. Daya Dalam Lensa Silinder Magnetik Sesudah "Analisis Material Berkas Cahaya elektron ", MH Loretto 3
4 C. Jalan Berkas Cahaya Yang Melewati Kolom Suatu berkas elektron dihasilkan dalam senapan elektron, yang terletak di bagian atas kolom, yang digambarkan disebelah kiri. Berkas ini tertarik melalui anoda, dikodensasikan dengan lensa kondensor, dan terfokus sebagai titik yang sangat tepat pada sampel oleh lensa objektif. Kumparan pemindai diberi energi (dengan memvariasikan tegangan yang dihasilkan oleh generator pemindai) dan menciptakan medan magnet yang membelokkan berkas bolak-balik dalam pola terkontrol. Tegangan yang berbeda-beda juga diterapkan pada kumparan di sekeliling leher tabung sinar katoda (CRT) yang menghasilkan cahaya yang dibelokkan dengan pola bolak-balik di permukaan CRT. Pola defleksi dari berkas elektron adalah sama dengan pola defleksi dari titik terang di CRT. Berkas elektron yang mengenai sampel, menghasilkan elektron sekunder. Elektron ini dikumpulkan oleh detektor sekunder atau backscatter detektor, dikonversi ke tegangan, dan diperkuat. Tegangan yang diperkuat diterapkan pada grid dari CRT dan menyebabkan intensitas cahaya berubah ubah. Gambar yang terbentuk terdiri dari ribuan titik-titik dengan berbagai intensitas pada permukaan CRT yang sesuai dengan topografi sampel. D. Diagram Cahaya SEM Skema ini menunjukkan lintasan cahaya untuk kondisi pemfokusan oleh dua probeforming lens: 1. Jarak kerja kecil (kiri), dan 4
5 2. Jarak kerja besar (kanan). Kedua kondisi memiliki lensa-lensa kondensor dan tingkatan numerik yang sama. Jika, sampel dipindah lebih jauh dari lensa, hal yang akan terjadi adalah: 1. Jarak kerja S di tambah 2. Perbesaran berkurang 3. Ukuran titik bertambah 4. Sudut hamburan alpha berkurang Gambar 4 : Pencahayaan mikroskop electron Pengurangan perbesaran didapati ketika pergerakan lensa dikurangi, yang gilirannya menambah jarak lensa f dari lensa. Resolusi spesimen dikurangi dengan menambahkan jarak kerja, sebab ukuran titik diperbesar. Sebaliknya, kedalaman medan ditingkatkan dengan menambah jarak kerja, sebab penyebaran sudut diperkecil, lihat gambar 4. E. Interaksi 5
6 Walaupun semua sinyal ini terdapat pada SEM, tidak semua dari mereka yang terdeteksi dan digunakan untuk mendapatkan informasi. Sinyal yang paling umum digunakan adalah Elektron Sekunder, yakni Backscattered Elektron dan X-ray. F. Menggunakan Ruang Hampa Ketika SEM digunakan, kolom harus selalu berada di ruang hampa. Ada banyak alasan untuk ini. Jika sampel berada dalam lingkungan yang penuh gas, sebuah berkas elektron tidak dapat dihasilkan atau dipertahankan karena ketidakstabilan yang tinggi dalam berkas. Gas dapat bereaksi dengan sumber elektron, menyebabkannya terbakar, atau menyebabkan elektron dalam berkas terionisasi, yang menghasilkan kotoran secara acak dan menyebabkan ketidakstabilan dalam berkas. Pengiriman berkas melalui kolom optik elektron juga akan terhambat oleh kehadiran molekul lainnya. Molekul lain yang bisa datang dari sampel atau mikroskop itu sendiri, bisa membentuk senyawa dan mengembun pada sampel. Ini akan menurunkan kontras dan mengaburkan detail dalam gambar. Sebuah lingkungan vakum juga diperlukan dalam bagian dari persiapan sampel. Salah satu contoh adalah coater menggerutu. Jika tidak di ruang vakum sebelum sampel dilapisi, molekul gas akan mendapat jalan argon dan emas. Hal ini bisa mengakibatkan lapisan yang tidak rata, atau tidak ada lapisan sama sekali. G. Konstruksi SEM Bagan terpenting dari SEM adalah apa yang disebut sebagai kolom elektron (electron column) yang memiliki piranti-piranti sebagai berikut: 6
7 1. Pembangkit elektron (electron gun) dengan filamen sebagai pengemisi elektron atau disebut juga sumber iluminasi. 2. Sebuah sistem lensa elektromagnet yang dapat dimuati untuk dapat memfokuskan atau mereduksi berkas elektron yang dihasilkan filamen ke diameter yang sangat kecil. 3. Sebuah sistim. perambah (scan) untuk menggerakan berkas elektron terfokus tadi pada permukaan sampel. 4. Satu atau lebih system deteksi untuk mengumpulkan hasil interaksi antara berkas elektron dengan sampel dan merubahnya ke signal listrik. 5. Sebuah konektor ke pompa vakum. Gambar 52 : Diagram antara ruang hampa dan sistem pendeteksian : 1. Ruang sampel; 2. Pemegang sampel; 3. Bagian pendeteksi ruang vacum; 4. Lensa Obyektif; 5. Pompa pemutar; 6. photo-multiplier blok; 7. Pengukur tekanan vacum; 8. Klep penutup; 9. Klep pintu Sebagai tambahan, SEM memiliki beberapa piranti untuk memungkinkan konversi signal listrik yang datang dari detector ke bentuk bayangan pada layar TV, foto, spektrum, dll. Pada gambar 4 dapat kita lihat bahwa elektron dari filamen difokuskan dengan lensa Kondensor sehingga bila berkas elektron ini menumbuk sampel berkas elektron tadi memiliki diameter sekitar 2-20 nanometer. Berkas elektron ini dibuat bergerak merambah seluruh permukaan sampel dengan rambahan zigzag oleh koil defleksi yang di dalamnya terdapat lensa-lensa obyektif. Ukuran dari lokasi yang dirambah dapat diubah dengan cara mengatur perbesaran (magnifikasi) yang merupakan perbandingan antara ukuran lokasi yang dirambah 7
8 yang terlihat di monitor terhadap lokasi pada sampel. Akibatnya, semakin kecil lokasi yang dirambah pada sampel semakin besar perbesaran gambar pada monitor. Terakhir, gambar 5 juga menunjukkan skema detektor secara keseluruhan berdasarkan blok-blok fungsi. H. Elektron Sekunder Elektron primer, yaitu elektron pengeksitasi (exciting electron) dapat berinteraksi dengan elektron lain dalam sampel, misalnya menolaknya dengan sejumlah energi kinetik. Jika elektron yang tertolak ini berasal dari ikatan yang lemah dan dapat ditolak atau dikeluarkan dengan hanya beberapa ev disebut sebagai elektron sekunder. (Singkatnya, sebuah elektron yang ditolak atau dikeluarkan dari sebuah atom dalam sampel adalah elektron sekunder, berapapun energinya). Karena elektron sekunder ini memiliki energi kecil, mereka dapat terlepas dari sampel dan hanya dapat dideteksi bila mereka diproduksi di permukaan. Untuk alasan yang sama, makanya elektron sekunder ini sensitive terhadap topografi sampel. Oleh karena elektron sekunder memiliki kerapatan yang tinggi sebelum mereka memperoleh kesempatan untuk menyebar, maka elektron sekunder ini memiliki resolusi ruang (spatial) yang tinggi dibandingkan dengan signal yang lain yang mungkin timbul akibat interaksi berkas elektron ini dengan sampel. Elektron sekunder membawa hanya sedikit informasi tentang komposisi unsur dari sampel; namun bagaimanapun, sensitivitas topografi dan resolusi ruang yang tinggi mereka menyebabkan elektron sekunder ini dipakai untuk memperoleh bayangan mikroskopik. Gambar 6 : Contoh bayangan dan energi elektron sekunder yang terpantul 8
9 Gambar 7 : Grafik energi elektron sekunder yang terpantul Karena alasan sensitivitas topografi inilah maka bayangan yang dihasilkan dari elektron sekunder sangat mudah diinterpretasikan secara visual karena gambar yang dihasilkan sama dengan lokasinya. Bayangan dari perbesaran kali yang dihasilkan dengan elektron sekunder sebanding dengan partikel emas pada grafit pada pusat gambar yang pada gambar 6 dan gambar 7. I. Elektron Terpantul Jika elektron primer (elektron dari berkas yang datang) berinteraksi dengan inti atom atau satu elektron dari atom sampel, elektron primer ini dapat dipantulkan ke suatu arah dengan mengalami sedikit kehilangan energi. Sebagian dari beberapa elektron terpantul ini dapat saja mengarah keluar sampel sehingga, setelah beberapa kali pantulan, sehingga mereka dapat dideteksi. Elektron terpantul ini lebih energik dibandingkan dengan elektron sekunder sehingga dapat saja masih dapat dipantulkan meskipun sudah terpendam dalam di dalam sampel. Karena itu bila dibandingkan dengan elektron sekunder, signal elektron terpantul tidak dapat memberikan informasi tentang topografi sampel dan juga resolusi ruang pada sampel. Namun bagaimanapun terdapat keuntungan sebagai kompensasi antara satu sama yang lain. Jika nomor atom dalam sampel semakin besar maka besar gaya pantulan inti positifnya lebih besar sehingga elektron terpantul ini dapat memberikan juga informasi tentang komposisi sampel. 9
10 Gambar 8 : (a) Hasil elektron sekunder; (b) Hasil elktron terpantul Gambar 8 adalah foto area yang sama dari alloy Ag-Cu-Ni. Pada hasil elektron terpantul, bagian yang terang adalah Ag dan bagian yang gelap adalah Cu-Ni. Kita dapat membuktikannya dengan prinsip bahwa semakin tingginya nomor atom dari suatu lokasi semakin tinggi intensitas signalnya. J. EDX (Energy-dispersive X-ray Spectroscopy) Bila elektron dengan energi yang cukup besar menumbuk pada sampel, mereka menyebabkan terjadinya emisi sinar-x yang energinya dan intensitasnya bergantung pada komposisi elemental sampel. Dengan menggunakan fenomena ini untuk menganalisa komposisi elemental dari volume-mikro (kasarnya satu sampai beberapa ratus kubik mikrometer) itulah yang disebut sebagai analisis mikro. Pada EDX di mana sinar-x yang diemisikan dikonversi dan disimpan secara elektronik dan bukan dengan difraksi kristal. 1. Karakteristik Sinar-X Bila sebuah elektron ditolak dari kulit dalam atom oleh interaksi dengan berkas elektron energi tinggi, hasilnya adalah ion tersebut berada pada tingkat eksitasi. Setelah melalui proses relaksasi atau de-eksitasi, ion tereksitasi ini memancarkan energi untuk dapat kembali ke tingkat normal yaitu keadaan dasar (ground state). Proses yang paling mungkin 10
11 dalam kebanyakan kasus adalah deretan transformasi yang masing-masing sebuah elektron dari kulit luar "jatuh" ke tempat kosong di dalam kulit terdalam. Seperti yang telah kita lihat, setiap kejatuhan menyebabkan elektron tersebut kehilangan sejumlah energi, katakan saja beda energi antara kulit di mana elektron berasal dan kulit ke mana elektron jatuh. Energi ini dibebaskan dalam bentuk radiasi elektromagnetik dalam kasus transisi energi tinggi yang melibatkan kulit terdalam. Energi yang diradiasikan ini secara unik mengindikasikan atom dari mana radiasi berasal, makanya disebut sebagai sinar-x karakteristik. 2. Nomenclature Garis-garis ini biasanya dinamakan sesuai dengan kulit atom ke mana elektron jatuh dan kulit dari mana elektron berasal. Misalnya, jika kulit yang kosong (tujuan) adalah kulit K dan kulit dari mana elektron berasal adalah kulit L, maka sinar-x Kα diradiasikan. Jika elektron jatuh dari kulit M yang berada dua tingkat di atas kulit K, maka sinar-x yang diradiasikan dinamakan sinar-x Kβ. Dalam EDX ini umumnya berhubungan dengan sinar-x deret K, L, dan M. Gambar 9 : Kulit atom dan tingkat-tingkat transisi 3. Intensitas Sinar-x Karakteristik Intensitas sinar-x karakteristik yang terdeteksi tergantung pada 3 faktor. Pertama, nomor atom dari atom teradiasi dan juga atom lingkungannya. Kedua, probabilitas terabsorpsinya sinar-x sebelum terlepas keluar dari sampel. Ketiga, fluoresen sekunder yang juga merupakan salah satu akibat terabsorpsinya sinar-x tersebut. Sebagai contoh, suatu sinarx karakteristik energi tinggi dari unsure A mungkin diabsorpsi oleh atom unsur B, karenanya merangsang sebuah emisi karakteristik dari unsur kedua dari energi yang lebih rendah. Terdapatnya unsur A dan B dalam sampel yang sama akan menaikkan intensitas dari emisi 11
12 karakteristik dari unsur B dan mengurangi emisi karakteristik dari unsur A. Inilah yang disebut sebagai efek matriks (matrix effect), yaitu sebuah efek yang tergantung pada matriks sampel, yang karenanya membutuhkan perlakuan khusus selama analisa kuantitatif. Gambar 10 : Element mikro-volume yang berinteraksi dengan berkas electron 4. Resolusi Ruang Sinar-X Sinar-x berjalan di dalam sampel dengan jarak yang jauh lebih jauh dibandingkan dengan elektron dan karenanya terlepas dari kedalaman di mana elektron primer telah tersebar secara luas. Konsekuensinya, signal sinar-x memiliki keterbatasan resolusi ruang dibandingkan dengan signal elektron sekunder dan terpantul. Tegangan pemercepat elektron dari kolom elektron dan nomor atom rata-rata Z dari volume sampel yang dianalisa mempengaruhi resolusi ruang dari signal sinar-x. Gambar 10 memperlihatkan secara kualitatif efek dari keduanya yaitu ukuran dan bentuk dari volume interaksi. 5. Analisis Seperti kita lihat pada Gambar 11, sebuah spektrum energi dispersi biasanya dilukiskan sebagai histogram, dengan sumbu horizontal menyatakan satuan energi dan sumbu vertical adalah jumlah counts atau intensitas. Gambar 8 ini menunjukan sebuah spektrum sinar-x, yang secara jelas menunjukan beberapa sifat khusus. Yang paling jelas adalah sinar-x karakteristik dari besi, kromium, dan nikel. Untuk setiap dari element ini terlihat kedua peak K-alpha dan K-beta peak. Ketidakrataan dari spectrum 12
13 ini menunjukkan fluktuasi statistik dari channel-ke-channel. Akhirnya, semua spektrum ini bertumpang tindih dengan spektrum yang berkurang secara perlahan dari kiri ke kanan. Gambar 11 : Spektrum sinar-x dari beberapa unsur sebagai hasil EDX. Analisis kualitatif adalah proses indentifikasi unsur-unsur yang ada dalam sampel. Analisis kuantitatif bertujuan untuk menjawab berapa banyak unsur X, Y dan Z yang ada dalam sampel. Qualitative analysis is the process of identifying which elements are present in a sampel. Dalam rumusan yang sederhana, analisis kualitatif dilakukan dengan cara menentukan energi dari peak yang ada dalam spektrum dan membandingkan dengan table energi emisi sinar-x dari unsur-unsur yang sudah diketahui. Dalam peralatan modern hal ini tidak perlu dilakukan karena komputer secara otomatis akan memberikan simbol unsur untuk setiap peak pada spektrum. Gambar 12 : Depth profile beberapa unsur untuk ketebalan tertentu suatu sampel Analisa kuantitatif tidak hanya menjawab unsur apa yang ada dalam sampel tetapi juga konsentrasi unsur tersebut. Untuk melakukan analisa kuantitatif maka perlu dilakukan 13
14 beberapa proses seperti: meniadakan background, dekonvolusi peak yang bertumpang tindih dan menghitung konsentrasi unsur. Kelebihan dari SEM adalah bahwa tidak diperlukan penyiapan sampel secara khusus. Tebal sampel tidak masalah bagi SEM seperti halnya pada TEM. Makanya sampel tebal dapat juga dianalisa dengan SEM asalkan dapat ditaruh di atas tatakan sampelnya. Hampir semua bahan non-konduktor yang dianalisa dengan SEM perlu dilapisi dengan lapisan tipis pada permukaannya dengan bahan konduktor. Lapisan ini penting untuk meniadakan atau mereduksi muatan listrik yang tertumpuk secara cepat dibahan nonkonduktor pada saat disinari dengan berkas elektron energi tinggi. Bahan pelapisan yang biasa dipakai adalah emas atau karbon. Bila lapisan ini tidak ada maka pada sampel nonkonduktor akan menghasilkan distorsi, kerusakan thermal dan radiasi yang dapat merusak material sampel. Pada situasi yang ekstrim, sampel dapat memperoleh muatan yang cukup untuk melawan berkas elektron yang jatuh padanya sehingga sampel ini bertindak sebagai cermin. Gambar 13 : Pelapisan permukaan sampel non-konduktor dengan emas. K. Preparasi Sampel 1. Teknik Pelapisan dengan Emas Jika tujuan analisa bukan untuk memperoleh spektrum sinar-x, emas adalah bahan pelapis yang sering digunakan untuk melapisi sampel non- konduktor. Gambar 13 memperlihatkan secara skematik apa yang disebut sebagai sputtering. Alat ini terdiri dari power supply D.C yang diatur antara 1 sampai 3 kv, dihubungkan seperti pada gambar 13, kutub positif ke lempengan emas dan kutub negatif ke sampel. Semua system ini ditaruh di ruang vakum yang dihubungkan dengan pompa vakum. Bila kita masukan ke dalam vakum gas seperti argon, atom argon ini akan menumbuk lempengan emas dan karenanya atom emas 14
15 terlepas dari lempengannya dan ditarik menuju sampel oleh medan listrik. Dengan demikian sampel terlapisi dengan emas. 2. Teknik Pelapisan dengan Karbon Pelapisan dengan emas dalam banyak kasus tidak mengijinkan kita untuk memperoleh juga spektrum sinar-x dari sampel karena lapisan emas dapat mengabsorpsi signal sinar-x yang keluar dari sampel. Bila kita inginkan spektrum sinar-x dari sampel nonkonduktor maka haruslah digunakan material pelapisan yang transparan terhadap sinar-x. Gambar 14 : Teknik pelapisan dengan Karbon untuk sampel non-konduktor. Dalam kasus ini, karbon adalah material yang sering dipakai. Gambar 14 menunjukkan secara skematik alat pelapisan dengan karbon. Alat ini terdiri dari 2 elektroda yang dihubungkan dengan sumber tegangan A.C tegangan rendah dan intensitas tinggi di mana batangan karbon diarahkan antara 2 elektroda tersebut. Oleh karena intensitas arus yang tinggi maka ujung yang tajam dari batangan karbon ini secepatnya terevaporasi dan dengan demikian sampel terlapisi dengan karbon. Batangan karbon ini dipadukan dengan sebuah per/pegas yang selalu membuat kontak antara dua elektroda tetap terjaga. Seluruh sistem ini juga berada dalam ruang vakum yang dihubungkan dengan pompa vakum. L. Beberapa Contoh Hasil SEM Pada tabel 1 ditampilkan beberapa sampel yang telah diamati dengan menggunakan Scanning Electron Microscopy (SEM). Tabel 1 : Beberapa contoh hasil SEM dengan berbagai resolusi3 15
16 16
17 BAB III PENUTUP A. Kesimpulan Berdasarkan uraian diatas maka diperoleh kesimpulan sebagai berikut : 1. Landasan teori bertumpu pada konsep sumber elektron 2. Spesimen mudah diperoleh, terutama yang berhubungan dengan persiapan untuk melakukan uji sampel. 3. Diperlukan keahlian khusus untuk dapat mengoperasikan SEM, namun demikian prinsip-prinsip dasar dari mikroskop sangatlah mendasar dan perlu dikuasainya pengertian-pengertian dasar tentang elektron. 4. Diperlukan keterampilan khusus untuk melakukan percobaan dan diperlukan keahlian tersendiri untuk mampu membaca makna dari hasil pemeriksaan di layar monitor atau print out. 5. Hanya bisa dilakukan di tempat-tempat khusus, sebab alat ini terlalu mahal artinya perlakuan penelitian dapat dilakukan di laboratorium-laboratorium khusus. B. Saran 17
18 Referensi : Dr.rer.nat. Kebamoto, Prinsip dan Pemakaian SEM dan EDX, Slide presentasi
BAB III METODE PENELITIAN
BAB III METODE PENELITIAN 3.1 Diagram Alir Penelitian Pada penelitian ini langkah-langkah dalam penelitian mengacu pada diagram alir : Mulai Penentuan Judul Studi Literatur Penyiapan Spesimen Pengujian-Pengujian
Transducer merupakan suatu perangkat / alat yang dapat merobah suatu besaran menjadi besaran lain, atau sebaliknya.
III. TRANSDUCER III.1. PENGERTIAN DAN MACAM TRANSDUCER Transducer merupakan suatu perangkat / alat yang dapat merobah suatu besaran menjadi besaran lain, atau sebaliknya. BESARAN NON LISTRIK TRANSDUCER
TEORI ATOM. Awal Perkembangan Teori Atom
TEORI ATOM Awal Perkembangan Teori Atom Teori atom pada masa peradaban Yunani Demokritus, Epicurus, Strato, Carus Materi tersusun dari partikel yang sangat kecil yang tidak dapat dibagi lagi Partikel
Overview Microscope Optik v.s SEM Scanning Electron Microscopy (SEM)
Overview Microscope Optik v.s SEM Scanning Electron Microscopy (SEM) Pengenalan SEM; Interaksi Berkas elektron-materi Preparasi Sample Kegunaan/Kelebihan SEM Beberapa contoh SEM image bentonit Microscope
KARAKTERISASI DIFRAKSI SINAR X DAN APLIKASINYA PADA DEFECT KRISTAL OLEH: MARIA OKTAFIANI JURUSAN FISIKA
KARAKTERISASI DIFRAKSI SINAR X DAN APLIKASINYA PADA DEFECT KRISTAL OLEH: MARIA OKTAFIANI 140310110018 JURUSAN FISIKA OUTLINES : Sinar X Difraksi sinar X pada suatu material Karakteristik Sinar-X Prinsip
Fisika Modern (Teori Atom)
Fisika Modern (Teori Atom) 13:05:05 Sifat-Sifat Atom Atom stabil adalah atom yang memiliki muatan listrik netral. Atom memiliki sifat kimia yang memungkinkan terjadinya ikatan antar atom. Atom memancarkan
ALAT UKUR RADIASI. Badan Pengawas Tenaga Nuklir. Jl. MH Thamrin, No. 55, Jakarta Telepon : (021)
ALAT UKUR RADIASI Badan Pengawas Tenaga Nuklir Jl. MH Thamrin, No. 55, Jakarta 10350 Telepon : (021) 230 1266 Radiasi Nuklir Secara umum dapat dikategorikan menjadi: Partikel bermuatan Proton Sinar alpha
MAKALAH FABRIKASI DAN KARAKTERISASI XRD (X-RAY DIFRACTOMETER)
MAKALAH FABRIKASI DAN KARAKTERISASI XRD (X-RAY DIFRACTOMETER) Oleh: Kusnanto Mukti / M0209031 Jurusan Fisika Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Universitas Sebelas Maret Surakarta 2012 I. Pendahuluan
BAB 2 TINJAUAN PUSTAKA
BAB 2 TINJAUAN PUSTAKA 2.1 Baterai Baterai adalah sel elektrokimia yang mengubah energi kimia menjadi energi listrik dengan suatu reaksi elektrokimia. Komponen utama baterai, yaitu: 1. Elektroda negatif
BAB II KAJIAN PUSTAKA DAN DASAR TEORI
BAB II KAJIAN PUSTAKA DAN DASAR TEORI 2.1. Kajian Pustaka Marwoto.P., dkk (2007) melakukan penelitian proses penumbuhan film tipis Ga 2 O 3 :Mn dengan mengguakan DC magnetron sputtering dan dilakukan dengan
BAB I PENDAHULUAN. pesat sehingga untuk mentransmisikan energi yang besar digunakan sistem
BAB I PENDAHULUAN I.1 Latar Belakang Permintaan kebutuhan energi listrik akan terus mengalami peningkatan secara pesat sehingga untuk mentransmisikan energi yang besar digunakan sistem tegangan tinggi
4 Hasil dan Pembahasan
4 Hasil dan Pembahasan 4.1 Sintesis Padatan TiO 2 Amorf Proses sintesis padatan TiO 2 amorf ini dimulai dengan melarutkan titanium isopropoksida (TTIP) ke dalam pelarut etanol. Pelarut etanol yang digunakan
TOPIK 9 ELEKTROMAGNETIK
TOPIK 9 ELEKTROMAGNETIK HUKUM FARADAY DAN INDUKSI ELEKTROMAGNETIK Hukum Faraday Setelah dalam tahun 1820 Oersted memperlihatkan bahwa arus listrik dapat mempengaruhi jarum kompas, Faraday mempunyai kepercayaan
BAB III METODE PENELITIAN
BAB III METODE PENELITIAN 3.1 Lokasi Penelitian Proses penelitian dilaksanakan di Laboratorium Fisika FMIPA USU, Medan untuk pengolahan Bentonit alam dan di Lembaga Ilmu Pengetahuan Indonesia (LIPI), Bandung
Tabung Sinar Katoda (CRT)
Tabung Sinar Katoda (CRT) Tatik yuniati Tatikyuniati10@yahoo.co.id Abstrak Tabung sinar katoda ( CRT ) adalah tabung vakum yang mengandung satu atau lebih senjata elektron (sumber elektron atau emitor
Spektroskopi Difraksi Sinar-X (X-ray difraction/xrd)
Spektroskopi Difraksi Sinar-X (X-ray difraction/xrd) Spektroskopi difraksi sinar-x (X-ray difraction/xrd) merupakan salah satu metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan
BAB I Jenis Radiasi dan Interaksinya dengan Materi
BAB I Jenis Radiasi dan Interaksinya dengan Materi Radiasi adalah pancaran energi yang berasal dari proses transformasi atom atau inti atom yang tidak stabil. Ketidak-stabilan atom dan inti atom mungkin
Sinar x memiliki daya tembus dan biasa digunakan dalam dunia kedokteran. Untuk mendeteksi penyakit yang ada dalam tubuh.
1. Pendahuluan Sinar X adalah jenis gelombang elektromagnetik. Sinar x ditemukan oleh Wilhem Conrad Rontgen pada tanggal 8 November 1895, ia menemukan secara tidak sengaja sebuah gambar asing dari generator
12/03/2015 SEKILAS SEJARAH. PERTEMUAN KE-3 PEMBENTUKAN DAN PENDETEKSIAN SINAR-X Nurun Nayiroh, M.Si TABUNG SINAR-X SKEMA TABUNG SINAR-X
MK DIFRAKSI SINAR-X SEKILAS SEJARAH PERTEMUAN KE-3 PEMBENTUKAN DAN PENDETEKSIAN SINAR-X Nurun Nayiroh, M.Si William Roentgen menemukan sinar-x yang memiliki sifat: 1. Merambat dengan lintasan lurus 2.
BAB III METODOLOGI PENELITIAN. perlakuan panas atau annealing pada lapisan sehingga terbentuk butiran-butiran
BAB III METODOLOGI PENELITIAN 3.1 Metode penelitian Metode penelitian yang digunakan pada penelitian ini adalah eksperimen dengan membuat lapisan tipis Au di atas substrat Si wafer, kemudian memberikan
DETEKTOR RADIASI INTI. Sulistyani, M.Si.
DETEKTOR RADIASI INTI Sulistyani, M.Si. Email: sulistyani@uny.ac.id Konsep Dasar Alat deteksi sinar radioaktif atau sistem pencacah radiasi dinamakan detektor radiasi. Prinsip: Mengubah radiasi menjadi
HASIL DAN PEMBAHASAN. Struktur Karbon Hasil Karbonisasi Hidrotermal (HTC)
39 HASIL DAN PEMBAHASAN Struktur Karbon Hasil Karbonisasi Hidrotermal (HTC) Hasil karakterisasi dengan Difraksi Sinar-X (XRD) dilakukan untuk mengetahui jenis material yang dihasilkan disamping menentukan
BAB II TINJAUAN PUSTAKA. terdapat 2 elektroda yaitu anoda dan katoda. Katoda/filamen tabung
BAB II TINJAUAN PUSTAKA II.1 Prinsip Kerja Sinar-X Tabung yang digunakan adalah tabung vakum yang di dalamnya terdapat 2 elektroda yaitu anoda dan katoda. Katoda/filamen tabung Roentgen dihubungkan ke
PAKET SOAL 1.c LATIHAN SOAL UJIAN NASIONAL TAHUN PELAJARAN 2011/2012
UJI COBA MATA PELAJARAN KELAS/PROGRAM ISIKA SMA www.rizky-catatanku.blogspot.com PAKET SOAL 1.c LATIHAN SOAL UJIAN NASIONAL TAHUN PELAJARAN 2011/2012 : FISIKA : XII (Dua belas )/IPA HARI/TANGGAL :.2012
Spektrometer massa A. Garis besar tentang apa yang terjadi dalam alat spektrometer massa Ionisasi Percepatan Pembelokan Pendeteksian
Spektrometer massa A. Garis besar tentang apa yang terjadi dalam alat spektrometer massa Atom dapat dibelokkan dalam sebuah medan magnet (dengan anggapan atom tersebut diubah menjadi ion terlebih dahulu).
PELURUHAN GAMMA ( ) dengan memancarkan foton (gelombang elektromagnetik) yang dikenal dengan sinar gamma ( ).
PELURUHAN GAMMA ( ) Peluruhan inti yang memancarkan sebuah partikel seperti partikel alfa atau beta, selalu meninggalkan inti pada keadaan tereksitasi. Seperti halnya atom, inti akan mencapai keadaan dasar
A. 100 N B. 200 N C. 250 N D. 400 N E. 500 N
1. Sebuah lempeng besi tipis, tebalnya diukur dengan menggunakan mikrometer skrup. Skala bacaan hasil pengukurannya ditunjukkan pada gambar berikut. Hasilnya adalah... A. 3,11 mm B. 3,15 mm C. 3,61 mm
SPEKTROSKOPI-γ (GAMMA)
SPEKTROSKOPI-γ (GAMMA) SPEKTROSKOPI-γ (GAMMA) Veetha Adiyani Pardede M0209054, Program Studi Fisika FMIPA UNS Jl. Ir. Sutami 36 A, Kentingan, Surakarta, Jawa Tengah email: veetha_adiyani@yahoo.com ABSTRAK
PRINSIP KERJA, CARA KERJA DAN PENERAPAN APLIKASI TRANSFORMATOR DIFFERENSIAL TUGAS PENGUKURAN TEKNIK KELOMPOK IV
PRINSIP KERJA, CARA KERJA DAN PENERAPAN APLIKASI TRANSFORMATOR DIFFERENSIAL TUGAS PENGUKURAN TEKNIK KELOMPOK IV 1. Torang Ridho S 0806368906 2. Deni Mulia Noventianus 0906604722 3. Mohammad Adiwirabrata
Spektrofotometer UV /VIS
Spektrofotometer UV /VIS Spektrofotometer adalah alat untuk mengukur transmitan atau absorban suatu sampel sebagai fungsi panjang gelombang. Spektrofotometer merupakan gabungan dari alat optic dan elektronika
BAB IV HASIL PENELITIAN dan PEMBAHASAN
BAB IV HASIL PENELITIAN dan PEMBAHASAN 4.1. KARAKTERISTIK SERBUK 4.1.1. Serbuk Fe-50at.%Al Gambar 4.1. Hasil Uji XRD serbuk Fe-50at.%Al Berdasarkan gambar di atas, dapat diketahui bahwa secara keseluruhan
III.METODELOGI PENELITIAN. Penelitian ini dilaksanakan selama tiga bulan terhitung pada bulan Februari Mei
17 III.METODELOGI PENELITIAN 3.1. Waktu dan Tempat Pelaksanaan Penelitian Penelitian ini dilaksanakan selama tiga bulan terhitung pada bulan Februari Mei 2012. Adapun tempat pelaksanaan penelitian ini
: Dr. Budi Mulyanti, MSi. Pertemuan ke-15 CAKUPAN MATERI
MATA KULIAH KODE MK Dosen : FISIKA DASAR II : EL-122 : Dr. Budi Mulyanti, MSi Pertemuan ke-15 CAKUPAN MATERI 1. EKSITASI ATOMIK 2. SPEKTRUM EMISI HIDROGEN 3. DERET SPEKTRUM HIDROGEN 4. TINGKAT ENERGI DAN
Partikel sinar beta membentuk spektrum elektromagnetik dengan energi
Partikel sinar beta membentuk spektrum elektromagnetik dengan energi yang lebih tinggi dari sinar alpha. Partikel sinar beta memiliki massa yang lebih ringan dibandingkan partikel alpha. Sinar β merupakan
III. METODE PENELITIAN. preparsai sampel dan pembakaran di furnace di Laboratorium Fisika Material
III. METODE PENELITIAN 3.1 Waktu dan Tempat Penelitian Waktu pelaksanaan penelitian terhitung sejak bulan Maret 2015 sampai dengan Mei 2015. Tempat penelitian dilaksanakan dibeberapa tempat yang berbeda
Laporan Praktikum Fisika Eksperimental Lanjut Laboratorium Radiasi
Laporan Praktikum Fisika Eksperimental Lanjut Laboratorium Radiasi PERCOBAAN R1 EKSPERIMEN DETEKTOR GEIGER MULLER Dosen Pembina : Drs. R. Arif Wibowo, M.Si Septia Kholimatussa diah* (080913025), Mirza
BAB I PENDAHULUAN. Perkembangan teknologi yang semakin maju dalam beberapa dekade ini
BAB I PENDAHULUAN 1.1 Latar Belakang Perkembangan teknologi yang semakin maju dalam beberapa dekade ini mengalami peralihan dari teknologi mikro (microtechnology) ke generasi yang lebih kecil yang dikenal
LATIHAN UJIAN NASIONAL
LATIHAN UJIAN NASIONAL 1. Seorang siswa menghitung luas suatu lempengan logam kecil berbentuk persegi panjang. Siswa tersebut menggunakan mistar untuk mengukur panjang lempengan dan menggunakan jangka
D. I, U, X E. X, I, U. D. 5,59 x J E. 6,21 x J
1. Bila sinar ultra ungu, sinar inframerah, dan sinar X berturut-turut ditandai dengan U, I, dan X, maka urutan yang menunjukkan paket (kuantum) energi makin besar ialah : A. U, I, X B. U, X, I C. I, X,
SPEKTROSKOPI-γ (GAMMA)
SPEKTROSKOPI-γ (GAMMA) Veetha Adiyani Pardede M2954, Program Studi Fisika FMIPA UNS Jl. Ir. Sutami 36 A, Kentingan, Surakarta, Jawa Tengah email: veetha_adiyani@yahoo.com ABSTRAK Aras-aras inti dipelajari
Fisika EBTANAS Tahun 1996
Fisika EBTANAS Tahun 1996 EBTANAS-96-01 Di bawah ini yang merupakan kelompok besaran turunan A. momentum, waktu, kuat arus B. kecepatan, usaha, massa C. energi, usaha, waktu putar D. waktu putar, panjang,
PERALATAN GELOMBANG MIKRO
5 6 PERALATAN GELOMBANG MIKRO dipancarkan gelombang mikro. Berikut dibicarakan sistem pembangkit gelombang mikro yang umum digunakan, mulai yang sederhana yaitu: klystron, magnetron, maser dan TWTA. 4.1.1
SPEKTROMETRI MASSA (MASS SPECTROMETRI, MS)
SPEKTROMETRI MASSA (MASS SPECTROMETRI, MS) Anna Permanasari 003 1 Spektrometri massa Teknik analisis instrumental untuk membantu identifikasi dan elusidasi struktur molekul senyawa murni berdasarkan massa
DETEKTOR RADIASI. NANIK DWI NURHAYATI, S.Si, M.Si nanikdn.staff.uns.ac.id
DETEKTOR RADIASI NANIK DWI NURHAYATI, S.Si, M.Si nanikdn.staff.uns.ac.id nanikdn@uns.ac.id - Metode deteksi radiasi didasarkan pd hasil interaksi radiasi dg materi: proses ionisasi & proses eksitasi -
Karakterisasi XRD. Pengukuran
11 Karakterisasi XRD Pengukuran XRD menggunakan alat XRD7000, kemudian dihubungkan dengan program dikomputer. Puncakpuncak yang didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi
UN SMA IPA 2008 Fisika
UN SMA IPA 008 Fisika Kode Soal P67 Doc. Version : 0-06 halaman 0. Tebal pelat logam diukur dengan mikrometer skrup seperti gambar Tebal pelat logam adalah... (A) 4,8 mm (B) 4,90 mm (C) 4,96 mm (D) 4,98
Blok Diagram Sebuah Osiloskop
OSILOSKOP BAB VI Kegunaan Osiloskop Untuk mengamati secara visual tingkah tegangan bolak balik dan tegangan searah. Sebagai alat ukur: tegangan searah dan tegangan bolak balik. : tegangan (Vpp) berbagai
I. NAMA PERCOBAAN Nama percobaan : C4 Mikroskop
I. NAMA PERCOBAAN Nama percobaan : C4 Mikroskop II. TUJUAN PERCOBAAN 1. Mampu menera mikroskop dengan bermacam-macam kombinasi okuler dan objektif 2. Mampu melakukan pengukuran benda / partikel yang Berukuran
BAB II KAJIAN PUSTAKA. Sejak ditemukan oleh ilmuwan berkebangsaan Jerman Christian Friedrich
BAB II KAJIAN PUSTAKA 2.1 Sel Bahan Bakar (Fuel Cell) Sejak ditemukan oleh ilmuwan berkebangsaan Jerman Christian Friedrich Schönbein pada tahun 1838, sel bahan bakar telah berkembang dan menjadi salah
BAB 1 PERKEMBANGAN TEORI ATOM
BAB 1 PERKEMBANGAN TEORI ATOM 1.1 Teori Atom Perkembangan teori atom merupakan sumbangan pikiran dari banyak ilmuan. Konsep dari suatu atom bukanlah hal yang baru. Ahli-ahli filsafah Yunani pada tahun
SPEKTROMETRI MASSA. Kuliah Kimia Analisis Instrumen Pertemuan Ke 7.
SPEKTROMETRI MASSA Kuliah Kimia Analisis Instrumen Pertemuan Ke 7 siti_marwati@uny.ac.id Spektrometri massa, tidak seperti metoda spektroskopi yang lain, tidak melibatkan interaksi antara radiasi ektromagnetik
1. Gejala Listrik Statis
1. Gejala Listrik Statis Gejala kelistrikan diawali dengan diamatinya benda-benda yang secara tidak terduga mampu saling tarik-menarik. Batang plastik yang sudah digosok-gosokkan ke kain yang halus teramati
DISTRIBUSI ENERGI ATOM BERDASARKAN TEMPERATUR PADA PERCOBAAN FRANK HERTZ
LAPORAN HASIL PENELITIAN PENGEMBANGAN MODEL PEMBELAJARAN DISTRIBUSI ENERGI ATOM BERDASARKAN TEMPERATUR PADA PERCOBAAN FRANK HERTZ Oleh : Agus Purwanto Sumarna JURUSAN PENDIDIKAN FISIKA FAKULTAS MATEMATIKA
TEORI PERKEMBANGAN ATOM
TEORI PERKEMBANGAN ATOM A. Teori atom Dalton Teori atom dalton ini didasarkan pada 2 hukum, yaitu : hukum kekekalan massa (hukum Lavoisier), massa total zat-zat sebelum reaksi akan selalu sama dengan massa
III. METODE PENELITIAN. Penelitian dilaksanakan pada bulan Juni 2013 sampai selesai. Penelitian dilakukan
27 III. METODE PENELITIAN A. Waktu dan Tempat Penelitian Penelitian dilaksanakan pada bulan Juni 2013 sampai selesai. Penelitian dilakukan di Laboratorium Fisika Material FMIPA Universitas Lampung. Uji
Induksi Elektromagnetik. Tenaga listrik dapat dibangkitkan dengan generator. Apa hubungannya generator dengan
VIII Induksi Elektromagnetik Tenaga listrik dapat dibangkitkan dengan generator. Apa hubungannya generator dengan induksi elektromagnetik? Arus listrik bagaimana yang dapat dihasilkan beberapa tiang listrik
BAB I PENDAHULUAN 1.1 Latar Belakang
1 BAB I PENDAHULUAN 1.1 Latar Belakang Penemuan sinar-x pertama kali oleh fisikawan berkebangsaan Jerman Wilhelm C. Roentgen pada tanggal 8 November 1895 memberikan hal yang sangat berarti dalam perkembangan
BAB V HASIL PENELITIAN. peralatan sebagai berikut : XRF (X-Ray Fluorecense), SEM (Scanning Electron
BAB V HASIL PENELITIAN Berikut ini hasil eksperimen disusun dan ditampilkan dalam bentuk tabel, gambar mikroskop dan grafik. Eksperimen yang dilakukan menggunakan peralatan sebagai berikut : XRF (X-Ray
X-Ray Fluorescence Analysis. (Analisa XRF)
X-Ray Fluorescence Analysis (Analisa XRF) Analisis X-ray Fluoresensi Pendahuluan Prinsip Kerja Skema Cara Kerja Alat Preparasi Sampel Instrumen XRF Contoh spektra Radiasi Elektromagnetik 1Hz - 1kHz Extra-Low
penetrant dan developer. Umumnya warna yang digunakan adalah putih untuk developer dan merah untuk penetrant.
penetrant dan developer. Umumnya warna yang digunakan adalah putih untuk developer dan merah untuk penetrant. Metode yang lain adalah menggunakan penetrant bercahaya/fluoresens. Langkah-langkah inspeksinya
TUGAS MAKALAH TEKNOLOGI PENGINDERAAN MIKROSKOPI
TUGAS MAKALAH TEKNOLOGI PENGINDERAAN MIKROSKOPI Disusun Oleh : APTIKA OKTAVIANA T.D ( M0306003 ) FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN ALAM UNIVERSITAS SEBELAS MARET SURAKARTA 2009 A. Evolusi Mikroskopi
UN SMA IPA 2008 Fisika
UN SMA IPA 2008 Fisika Kode Soal P67 Doc. Name: UNSMAIPA2008FISP67 Doc. Version : 2011-06 halaman 1 01. Tebal pelat logam diukur dengan mikrometer skrup seperti gambar Tebal pelat logam adalah... (A) 4,85
Hasil Penelitian dan Pembahasan
Bab IV Hasil Penelitian dan Pembahasan IV.1 Pengaruh Arus Listrik Terhadap Hasil Elektrolisis Elektrolisis merupakan reaksi yang tidak spontan. Untuk dapat berlangsungnya reaksi elektrolisis digunakan
LEMBAR DISKUSI SISWA MATER : INDUKSI ELEKTROMAGNETIK IPA TERPADU KELAS 9 SEMESTER 2
Halaman 1 LEMBAR DISKUSI SISWA MATER : INDUKSI ELEKTROMAGNETIK IPA TERPADU KELAS 9 SEMESTER 2 SMP NEGERI 55 JAKARTA A. GGL INDUKSI Sebelumnya telah diketahui bahwa kelistrikan dapat menghasilkan kemagnetan.
BAB FISIKA ATOM I. SOAL PILIHAN GANDA
FISIK TOM I. SOL PILIHN GND 0. Pernyataan berikut yang termasuk teori atom menurut Dalton adala... agian terkecil suatu atom adala elektron. lektron dari suatu unsur sama dengan elektron dari unsure lain.
PEMERINTAH KOTA PADANG DINAS PENDIDIKAN UJIAN SEKOLAH (USEK) KOTA PADANG TAHUN PELAJARAN 2014/2015
PEMERINTAH KOTA PADANG DINAS PENDIDIKAN UJIAN SEKOLAH (USEK) KOTA PADANG TAHUN PELAJARAN 204/205 Mata Pelajaran : FISIKA Satuan Pendidikan : SMA/MA Kelas / Program : XII / IPA Paket : 0 Hari / Tanggal
PREDIKSI 8 1. Tebal keping logam yang diukur dengan mikrometer sekrup diperlihatkan seperti gambar di bawah ini.
PREDIKSI 8 1. Tebal keping logam yang diukur dengan mikrometer sekrup diperlihatkan seperti gambar di bawah ini. Dari gambar dapat disimpulkan bahwa tebal keping adalah... A. 4,30 mm B. 4,50 mm C. 4,70
Terdiri atas inti atom dan elektron yang berada diluar atom. Inti atom tersusun atas proton dan netron.
PARTIKEL-PARTIKEL DASAR ATOM (Sumber : www.chem-is-try-org) Kimia SMAN 113 Jakarta (www.kimiavegas.wordpress.com) Guru Mata Pelajaran : Gianto, SPd Facebook: multios2009@gmail.com Terdiri atas inti atom
D. 30 newton E. 70 newton. D. momentum E. percepatan
1. Sebuah benda dengan massa 5 kg yang diikat dengan tali, berputar dalam suatu bidang vertikal. Lintasan dalam bidang itu adalah suatu lingkaran dengan jari-jari 1,5 m Jika kecepatan sudut tetap 2 rad/s,
BAB II LANDASAN TEORI
BAB II LANDASAN TEORI 2.1 Dasar Sistem Komunikasi Serat Optik Sistem komunikasi optik adalah suatu sistem komunikasi yang media transmisinya menggunakan serat optik. Pada prinsipnya sistem komunikasi serat
METODE PENELITIAN. Waktu pelaksanaan penelitian terhidung sejak bulan Juni 2013 sampai dengan
29 III. METODE PENELITIAN A. Waktu dan Tempat Penelitian Waktu pelaksanaan penelitian terhidung sejak bulan Juni 2013 sampai dengan Agustus 2013. Penelitian ini dilakukan di beberapa tempat yaitu di Laboratorium
4. Sebuah sistem benda terdiri atas balok A dan B seperti gambar. Pilihlah jawaban yang benar!
Pilihlah Jawaban yang Paling Tepat! Pilihlah jawaban yang benar!. Sebuah pelat logam diukur menggunakan mikrometer sekrup. Hasilnya ditampilkan pada gambar berikut. Tebal pelat logam... mm. 0,08 0.,0 C.,8
FT UNP PADANG Lembaran : Job Sheet. Waktu : 4 x 50 Topik : Display. Kode : 09/ELK-ELA 166/2007 Judul : Tabung Gambar
FT UNP PADANG Lembaran : Job Sheet Jurusan : PT. Elektronika Mata Kuliah : Teknologi Display & TV Waktu : 4 x 50 Topik : Display Kode : 09/ELK-ELA 166/2007 Judul : A. TUJUAN Setelah melakukan praktikum
D. 30 newton E. 70 newton. D. momentum E. percepatan
1. Sebuah benda dengan massa 5 kg yang diikat dengan tali, berputar dalam suatu bidang vertikal. Lintasan dalam bidang itu adalah suatu lingkaran dengan jari-jari 1,5 m Jika kecepatan sudut tetap 2 rad/s,
PERCOBAAN e/m ELEKTRON
PERCOBAAN e/m ELEKTRON A. TUJUAN 1. Mempelajari sifat medan magnet yang ditimbulkan oleh kumparan Helmholtz.. Menetukan nilai e/m dengan medan magnet. B. PERALATAN 1. Seperangkat peralatan e/m. Sumber
FISIKA 2015 TIPE C. gambar. Ukuran setiap skala menyatakan 10 newton. horisontal dan y: arah vertikal) karena pengaruh gravitasi bumi (g = 10 m/s 2 )
No FISIKA 2015 TIPE C SOAL 1 Sebuah benda titik dipengaruhi empat vektor gaya yang setitik tangkap seperti pada gambar. Ukuran setiap skala menyatakan 10 newton. Besar resultan gayanya adalah. A. 60 N
Jenis-jenis Monitor. Gambar 1. CRT
Jenis-jenis Monitor 2.4.1 Monitor tabung CRT Tabung sinar katoda (bahasa Inggris: cathode ray tube atau CRT) yang ditemukan oleh Karl Ferdinand Braun, merupakan sebuah tabung penampilan yang banyak digunakan
BAB II PENGUJIAN-PENGUJIAN PADA MATERIAL
BAB II PENGUJIAN-PENGUJIAN PADA MATERIAL Kekerasan Sifat kekerasan sulit untuk didefinisikan kecuali dalam hubungan dengan uji tertentu yang digunakan untuk menentukan harganya. Harap diperhatikan bahwa
PR ONLINE MATA UJIAN: FISIKA (KODE A07)
PR ONLINE MATA UJIAN: FISIKA (KODE A07) 1. Gambar di samping ini menunjukkan hasil pengukuran tebal kertas karton dengan menggunakan mikrometer sekrup. Hasil pengukurannya adalah (A) 4,30 mm. (D) 4,18
Fisika UMPTN Tahun 1986
Fisika UMPTN Tahun 986 UMPTN-86-0 Sebuah benda dengan massa kg yang diikat dengan tali, berputar dalam suatu bidang vertikal. Lintasan dalam bidang itu adalah suatu lingkaran dengan jari-jari, m. Jika
UN SMA IPA 2008 Fisika
UN SMA IPA 008 Fisika Kode Soal P44 Doc. Name: UNSMAIPA008FISP44 Doc. Version : 011-06 halaman 1 01. Berikut ini disajikan diagram vektor F 1 dan F! Persamaan yang tepat untuk resultan R = adalah... (A)
BAB II LANDASAN TEORI
BAB II LANDASAN TEORI 2.1 Sebagai Sumber angin telah dimanfaatkan oleh manusaia sejak dahulu, yaitu untuk transportasi, misalnya perahu layar, untuk industri dan pertanian, misalnya kincir angin untuk
X-Ray Fluorescence Spectrometer (XRF)
X-Ray Fluorescence Spectrometer (XRF) X-Ray Fluorescence Spectrometer (XRF) Philips Venus (Picture from http://www.professionalsystems.pk) Alat X-Ray Fluorescence Spectrometer (XRF) memanfaatkan sinar
LAPORAN PRAKTIKUM SPEKTROSKOPI XRF DENGAN DETEKTOR SEMIKODUKTOR Cd Te
1. TUJUAN PRATIKUM Tujuan pratikum Instrumentasi nuklir khususnya XRF (X-ray fluorescence spectrometry) adalah : 1. Mahasiswa mengetahui prinsip kerja dan cara-cara menggunakan XRF 2. Mahasiswa mampu mengkalibrasi
BAB II KARAKTERISTIK PEMUTUS TENAGA
BAB II KARAKTERISTIK PEMUTUS TENAGA 2.1 Fungsi Pemutus Tenaga Pemutus tenaga (PMT) adalah saklar yang dapat digunakan untuk menghubungkan atau memutuskan arus atau daya listrik sesuai dengan ratingnya.
Sinar X. (Diajukan Guna Memenuhi Tugas Fisika Modern) Oleh :
Sinar X (Diajukan Guna Memenuhi Tugas Fisika Modern) Oleh : Nur Izzati R. (120210102026) Nanda Nurarivikka F. (120210102029) Novida Ismiazizah (120210102090) PROGRAM STUDI PENDIDIKAN FISIKA JURUSAN MATEMATIKA
AAS ( Atomic Absorption Spektrophotometry) Gambar 1. Alat AAS
AAS ( Atomic Absorption Spektrophotometry) Spektrofotometer Serapan Atom (AAS) adalah suatu alat yang digunakan pada metode analisis untuk penentuan unsur-unsur logam dan metaloid yang berdasarkan pada
BAB III MAGNETISME. Tujuan Penmbelajaran : - Memahami dan mengerti tentang sifat-sifat magnet, bahan dan kegunaannya.
BAB III MAGNETISME Tujuan Penmbelajaran : - Memahami dan mengerti tentang sifat-sifat magnet, bahan dan kegunaannya. Magnetisme (kemagnetan) tercakup dalam sejumlah besar operasi alat listrik, seperti
BAB III METODE PENELITIAN. Penelitian hampir seluruhnya dilakukan di laboratorium Gedung Fisika Material
BAB III METODE PENELITIAN Metode yang dilakukan dalam penelitian ini adalah rancang bangun alat. Penelitian hampir seluruhnya dilakukan di laboratorium Gedung Fisika Material Pusat Teknologi Nuklir Bahan
BAB II TINJAUAN PUSTAKA
BAB II TINJAUAN PUSTAKA 2.1 Dielektrik Dielektrik adalah suatu bahan yang memiliki daya hantar arus yang sangat kecil atau bahkan hampir tidak ada.bahan dielektrik dapat berwujud padat, cair dan gas. Pada
BAHAN BAKAR KIMIA (Continued) Ramadoni Syahputra
BAHAN BAKAR KIMIA (Continued) Ramadoni Syahputra 6.2 SEL BAHAN BAKAR Pada dasarnya sel bahan bakar (fuel cell) adalah sebuah baterai ukuran besar. Prinsip kerja sel ini berlandaskan reaksi kimia, bahwa
PENUMBUHAN FILM TIPIS SEMIKONDUKTOR
PENUMBUHAN FILM TIPIS SEMIKONDUKTOR Penumbuhan film tipis semikonduktor di atas substrat dapat dilakukan secara epitaksi. Dalam bahasa yunani epi berarti di atas dan taksial berarti menyusun dengan kata
METODE PENELITIAN. Penelitian dilaksanakan terhitung sejak bulan Desember 2014 sampai dengan Mei
27 III. METODE PENELITIAN A. Waktu dan Tempat Penelitian Penelitian dilaksanakan terhitung sejak bulan Desember 2014 sampai dengan Mei 2015. Penelitian ini dilakukan di Laboratorium Fisika Material FMIPA
Fisika EBTANAS Tahun 1998
Fisika EBTANAS Tahun 1998 EBTANAS-98-01 Pada ganbar di samping, komponen vektor gaya F menurut sumbu x adalah A. 1 3 F y B. 1 F F 1 F C. 30 o D. 1 F 0 x E. 1 3 F EBTANAS-98-0 Benda jatuh bebas adalah benda
METODE X-RAY. Manfaat dari penyusunan makalah ini adalah sebagai berikut :
METODE X-RAY Kristalografi X-ray adalah metode untuk menentukan susunan atom-atom dalam kristal, di mana seberkas sinar-x menyerang kristal dan diffracts ke arah tertentu. Dari sudut dan intensitas difraksi
PERTEMUAN KE 2 (50 MENIT)
PERTEMUAN KE 2 (50 MENIT) TUJUAN INSTRUKSIONAL KHUSUS : Menjelaskan fisika radiasi sebagai dasar dalam diagnosa Roentgenografi. POKOK BAHASAN : Fisika radiasi Sub pokok bahasan : 1. Konsep dasar sinar
10/10/2017. Teknologi Display SISTEM KOORDINAT DAN BENTUK DASAR GEOMETRI (OUTPUT PRIMITIF) CRT CRT. Raster Scan Display
1 2 SISTEM KOORDINAT DAN BENTUK DASAR GEOMETRI (OUTPUT PRIMITIF) Teknologi Display Cathode Ray Tubes (CRT) Liquid Crystal Display (LCD) 3 4 CRT Elektron ditembakkan dari satu atau lebih electron gun Kemudian
UN SMA IPA 2009 Fisika
UN SMA IPA 009 isika Kode Soal P88 Doc. Version : 0-06 halaman 0. itria melakukan perjalanan napak tilas dimulai dari titik A ke titik B : 600 m arah utara; ke titik C 400 m arah barat; ke titik D 00 m
Antiremed Kelas 12 Fisika
Antiremed Kelas 12 Fisika Persiapan UAS 2 Doc. Name: AR12FIS02UAS Version : 2016-09 halaman 1 01. Batas ambang frekuensi dari seng untuk efek fotolistrik adalah di daerah sinar ultraviolet. Manakah peristiwa
Hak Cipta 2014 Penerbit Erlangga
004-500-008-0 Hak Cipta 2014 Penerbit Erlangga Berilah tanda silang (X) pada huruf A, B, C, D, atau E pada jawaban yang benar! 1. Skala mikrometer skrup ketika digunakan mengukur diameter bola kecil ditunjukkan