PENENTUAN TEBAL BAHAN TRANSPARAN (ZnO) MENGGUNAKAN INTERFEROMETER MICHELSON

dokumen-dokumen yang mirip
PENENTUAN TEBAL BAHAN TRANSPARAN

STUDI EFEK MAGNETO OPTIS PADA LAPISAN TIPIS (ZnO) MENGGUNAKAN INTERFEROMETER MICHELSON

Review Studi Difraksi Fresnel Menggunakan Celah Bentuk Lingkaran

SIFAT OPTIS TAK-LINIER PADA MATERIAL KDP

Interferometer Michelson

Pengukuran Panjang Koherensi Menggunakan Interferometer Michelson

Penentuan Nilai Koefisien Linear Magneto Optik Bahan Transparan Menggunakan Interferometer Michelson

Bahan Kuliah Fisika Dasar 2. Optika Fisis

III. METODE PENELITIAN. Penelitian ini mulai dilaksanakan pada bulan November 2013 s/d Mei 2014.

PENGUKURAN PANJANG GELOMBANG DENGAN TEKNIK DIFRAKSI FRAUNHOFER MENGGUNAKAN CELAH SEMPIT BERBENTUK LINGKARAN

JURNAL Teori dan Aplikasi Fisika Vol. 03, No.02,juli 2015

Perancangan Sistem Pengukuran Konsentrasi Larutan Dengan Menggunakan Interferometer Michelson

Berkala Fisika ISSN : Vol. 7, No. 3, Juli 2004, hal 91-96

Cetakan I, Agustus 2014 Diterbitkan oleh: Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam, Universitas Pattimura

Efek Magnetooptis Pada Lapisan AgBr Terekspos

PEMBUATAN KONDUKTOR TRANSPARAN THIN FILM SnO2 DENGAN MENGGUNAKAN TEKNIK SPRAY PYROLYSIS

Abstrak. Kata kunci: NiraTebu, Sukrosa, Indeks bias, Interferometer Michelson

Analisis Pola Interferensi Pada Interferometer Michelson untuk Menentukan Panjang Gelombang Sumber Cahaya

Identifikasi Sifat Optis Media Air dan Larutan Garam Dalam Medan Magnet Luar

SISTEM OPTIK INTERFEROMETER MICHELSON MENGGUNAKAN DUA SUMBER LASER UNTUK MEMPEROLEH POLA FRINJI. Yayuk Widamarti*, Minarni, Maksi Ginting

Penentuan Nilai Panjang Koherensi Laser Menggunakan Interferometer Michelson

Interferometer Fabry Perot : Lapisan optis tipis, holografi.

Pengukuran Panjang Gelombang Cahaya Laser Dioda Mengunakan Kisi Difraksi Refleksi dan Transmisi

PENGUKURAN NILAI PANJANG KOHERENSI DUA SUMBER LASER MENGGUNAKAN INTERFEROMETER MICHELSON

INTERFEROMETER MICHELSON DAN CCD WEBCAM SEBAGAI PENENTU FREKUENSI GETAR OBJEK

BAB IV HASIL DAN PEMBAHASAN

PENENTUAN KEMURNIAN MINYAK KAYU PUTIH DENGAN TEKNIK ANALISIS PERUBAHAN SUDUT PUTAR POLARISASI CAHAYA AKIBAT MEDAN LISTRIK LUAR

III. METODE PENELITIAN. Penelitian mengenai analisis pola interferensi pada interferometer Michelson

PENGARUH KENAIKAN FREKUENSI GETARAN AKUSTIK TERHADAP JUMLAH PERGESERAN FRINJI PADA INTERFEROMETER MICHELSON

ANALISA PEREKAMAN DAN REKONSTRUKSI HOLOGRAFI DIGITAL MIKROSKOPIK PADA KACA PREPARAT MENGGUNAKAN METODE IN-LINE. Mahasiswa Jurusan Fisika 2

INTERFEROMETER DAN PRINSIP BABINET

PENENTUAN SUDUT DEVIASI MINIMUM PRISMA MELALUI PERISTIWA PEMBIASAN CAHAYA BERBANTUAN KOMPUTER

LAPORAN RESMI PRAKTIKUM FISIKA DASAR II CINCIN NEWTON. (Duty Millia K)

Oleh: Tyas Puspitaningrum, Tjipto Sujitno, dan Ariswan

Untuk terang ke 3 maka Maka diperoleh : adalah

PEMBUATAN HOLOGRAM TRANSMISI

SATUAN ACARA PEMBELAJARAN (SAP) UNIVERSITAS DIPONEGORO. Satuan Acara Pembelajaran

DIFRAKSI FRAUNHOFER CELAH TUNGGAL DENGAN DAN TANPA MENGGUNAKAN LENSA POSITIF SEBAGAI PEMFOKUS

MODUL 1 INTERFEROMETER DAN PRINSIP BABINET

JARAK FOKUS LENSA TIPIS

Perancangan Sistem Pengukuran Konsentrasi Larutan Gula Dengan Menggunakan Interferometer Michelson

Xpedia Fisika. Optika Fisis - Soal

BAB II LANDASAN TEORI. pada permukaannya digoreskan garis-garis sejajar dengan jumlah sangat besar.

PENGARUH POLARITAS MEDAN LISTRIK EKSTERNAL DAN SUDUT POLARISASI LASER DIODA UNTUK PENGAMATAN EFEK KERR

A. DISPERSI CAHAYA Dispersi Penguraian warna cahaya setelah melewati satu medium yang berbeda. Dispersi biasanya tejadi pada prisma.

UJI KESEMPURNAAN LENSA BERDASARKAN SIFAT ABERASI LENSA MENGGUNAKAN METODE INTERFEROMETER TWYMAN-GREEN Oleh Indah Warni J2D002202

BAB I PENDAHULUAN Latar Belakang

LAPORAN R-LAB. Pengukuran Lebar Celah

PENGEMBANGAN LAPISAN TIPIS TEMBAGA OKSIDA SEBAGAI BEAM DIVIDER PADA PERANGKAT PRAKTIKUM FISIKA (OPTIKA) DI MADRASAH/SEKOLAH

Penentuan Faktor Intensitas Tegangan Dengan Metode Kaustik Determination of Stress Intensity Factor Using Caustic Method

Kumpulan Soal Fisika Dasar II.

Pengaruh Temperatur dan Waktu Putar Terhadap Sifat Optik Lapisan Tipis ZnO yang Dibuat dengan Metode Sol-Gel Spin Coating

INTERFERENSI DAN DIFRAKSI

Pengukuran Kualitas Madu Bunga Berdasarkan Konstanta Efek Kerr yang Diukur Menggunakan Interferometer Michelson

PENENTUAN KOEFISIEN LINIER ELEKTRO OPTIS PADA AQUADES DAN AIR SULING MENGGUNAKAN GELOMBANG RF

Perancangan Sistem Pengukuran Konsentrasi Larutan Menggunakan Metode Difraksi

KARAKTERISASI TiO 2 (CuO) YANG DIBUAT DENGAN METODA KEADAAN PADAT (SOLID STATE REACTION) SEBAGAI SENSOR CO 2

Interferensi Cahaya. Agus Suroso Fisika Teoretik Energi Tinggi dan Instrumentasi, Institut Teknologi Bandung

Analisis Pola Interferensi Pada Interferometer Michelson Untuk Menentukan Indeks Bias Bahan Transparan Berbasis Image Processing

ANALISIS POLA INTERFERENSI CELAH BANYAK UNTUK MENENTUKAN PANJANG GELOMBANG LASER He-Ne DAN LASER DIODA

SINTESIS LAPISAN TIPIS SEMIKONDUKTOR DENGAN BAHAN DASAR TEMBAGA (Cu) MENGGUNAKAN CHEMICAL BATH DEPOSITION

LAPORAN TUGAS AKHIR PEMBUATAN GELAS TRANSPARAN FTO SEBAGAI BAHAN BAKU SEL SURYA

ANALISA SPEKTRUM CAHAYA LASER He-Ne MENGGUNAKAN SPEKTROMETER DIGITAL

PENENTUAN RUGI-RUGI KELENGKUNGAN FIBER OPTIK MODE TUNGGAL SECARA KOMPUTASI

KATA PENGANTAR. Kupang, September Tim Penyusun

Antiremed Kelas 12 Fisika

MENENTUKAN KOEFISIEN EKSPANSI LINIER BATANG KUNINGAN DENGAN TEKNIK ESPI (ELECTRONIC SPECKLE PATTERN INTERFEROMETRY) ABSTRACT

A. PENGERTIAN difraksi Difraksi

Keywords : Optical flat, Fringe pattern, beam splitter, contack methode, interferometer Michelson methode.

Pengaruh Ketebalan terhadap Sifat Optik Lapisan Semikonduktor Cu 2 O yang Dideposisikan dengan Metode Chemical Bath Deposition (CBD)

2 SINTESIS DAN KARAKTERISASI NANOSTRUKTUR ZnO

BAB I PENDAHULUAN 1.1. Latar Belakang

PENGUKURAN INDEKS BIAS ALKOHOL DENGAN MENGGUNAKAN INTERFEROMETER MICHELSON SKRIPSI

Pengukuran Indeks Bias Minyak Kelapa Sawit dengan Menggunakan Metode Difraksi Fraunhofer Celah Tunggal

Key words : external electrics field, non-linear optics, polarization, polarization angle

Perancangan Sistem Pengukuran Konsentrasi Larutan Gula Menggunakan Metode Difraksi

RANCANG BANGUN LASER UNTUK PEMBELAJARAN OPTIKA DALAM MENENTUKAN INDEKS BIAS DAN DIFRAKSI KISI. Puji Hariati Winingsih

Pengembangan Spektrofotometri Menggunakan Fiber Coupler Untuk Mendeteksi Ion Kadmium Dalam Air

PENENTUAN PANJANG GELOMBANG EMISI PADA NANOPARTIKEL CdS DAN ZnS BERDASARKAN VARIASI KONSENTRASI MERCAPTO ETHANOL

PENGAMATAN PERUBAHAN SUDUT POLARISASI CAHAYA AKIBAT PEMBERIAN MEDAN LISTRIK STATIS PADA GLISERIN

STRUKTUR MATERI GELOMBANG CAHAYA. 2 Foton adalah paket-paket cahaya atau energy yang dibangkitkan oleh gerakan muatan-muatan listrik

BAB 3 RANCANG BANGUN EKSPERIMEN SISTEM INTERFEROMETER SAGNAC

BAB 4 Difraksi. Difraksi celah tunggal

Deteksi Kadar Glukosa dalam Air Destilasi Berbasis Sensor Pergeseran Menggunakan Fiber Coupler

M-5 PENENTUAN PANJANG GELOMBANG CAHAYA TAMPAK

SISTEM KOMUNIKASI SERAT OPTIK

Studi Difraksi Fresnel Untuk Menentukan Panjang Gelombang Sumber Cahaya Monokromatis Menggunakan Celah Bentuk Lingkaran

BAB I PENDAHULUAN. Indonesia merupakan negara berkembang yang berada dikawasan Asia

STUDI PENGARUH SUHU SUBSTRAT TERHADAP SIFAT LISTRIK DAN OPTIK BAHAN SEMIKONDUKTOR LAPISAN TIPIS SnSe HASIL PREPARASI TEKNIK VAKUM EVAPORASI

PEMANTULAN INTERNAL BERULANG PADA MACROWAVEGUIDE BERBENTUK SEGITIGA

SIFAT-SIFAT OPTIK DAN LISTRIK BAHAN SEMIKONDUKTOR SnS LAPISAN TIPIS HASIL PREPARASI DENGAN TEKNIK VAKUM EVAPORASI UNTUK APLIKASI SEL SURYA ABSTRAK

KARAKTERISASI SISTEM SENSOR SERAT OPTIK BERDASARKAN EFEK GELOMBANG EVANESCENT

Pengukuran Panjang Gelombang Cahaya Laser Dioda Menggunakan Kisi Difraksi Refleksi dan Transmisi

LEMBAR KERJA SISWA (LKS) /TUGAS TERSTRUKTUR - - GELOMBANG ELEKTROMAGNET - G ELO MB ANG ELEK TRO M AG NETIK

Sifat gelombang elektromagnetik. Pantulan (Refleksi) Pembiasan (Refraksi) Pembelokan (Difraksi) Hamburan (Scattering) P o l a r i s a s i

Pengukuran Panjang Gelombang Sumber Cahaya Berdasarkan Pola Interferensi Celah Banyak

DINAS PENDIDIKAN KOTA PADANG SMA NEGERI 10 PADANG Cahaya

PENGEMBANGAN METODE PENYETABIL SUMBER CAHAYA LASER HE-NE dengan MENGGUNAKAN PLAT λ/4

KARAKTERISASI SIFAT OPTIK LAPISAN TIPIS ZnO:Al PADA SUBSTRAT GELAS UNTUK JENDELA SEL SURYA

BAB I PENDAHULUAN 1.1 LatarBelakang

Transkripsi:

PEETUA TEBAL BAHA TRASPARA (ZnO) MEGGUAKA ITERFEROMETER MICHELSO Sulung Edy ugroho, K. Sofjan Firdausi, Indras Marhaendarjaya Laboratorium Elektronika-Optik dan Laser Jurusan Fisika, FMIPA UDIP Semarang ABSTRACT Thickness determination of ZnO material on a substrate (microscope slide) by using Michelson Interferometer has been carried out. The material used in the research was ZnO transparent material deposited on a mm-thickness of a microscope slide. Refractive index of the microscope slide and the thickness of ZnO were measured by counting the fringes transitions as the materials rotated large as, on the other words, fringes transitions as function of sinus incident angles of laser ray, sin. Incident angles of laser ray, which are used in the measurement of ZnO transparent material thickness on microscope slide, are,, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, and 0. Laser ray used in this research was He-e laser, which has 633 nm and its output power was < mw. The results of this research show that there were fringes transitions as research-materials rotated large as. The measured fringes transitions still have remarkable agreement with the theoretical fringes transitions. As the incident angles increases, the fringes transitions will increase as well as. The thickness of the ZnO thin film, which is resulted from the research, is equal to (6.0 ±.8) 0-5 m. ITISARI Telah dilakukan penelitian untuk menentukan tebal bahan transparan (ZnO) pada suatu substrat (kaca preparat) dengan menggunakan Interferometer Michelson. Bahan yang digunakan berupa kaca preparat dengan tebal mm dan kaca preparat berlapis ZnO. Indeks bias kaca preparat dan tebal lapisan tipis ZnO pada kaca preparat dapat diketahui dengan menghitung jumlah perubahan frinji atau transisi frinji akibat bahan-transparan-uji diputar sebesar, atau dengan kata lain, jumlah perubahan frinji sebagai fungsi sinus sudut datang sinar laser, sin. Besar sudut datang sinar laser yang digunakan untuk penentuan tebal lapisan ZnO pada kaca preparat adalah sebesar,, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, dan 0. Sinar laser yang digunakan berupa sinar laser He- e dengan 633 nm dan daya keluaran < mw. Hasil penelitian menunjukkan bahwa terdapat jumlah perubahan frinji akibat bahan-transparan-uji diputar sebesar. Bila dibandingkan jumlah perubahan frinji hasil teori, jumlah perubahan frinji hasil eksperimen ternyata masih sesuai. Makin besar sudut datang maka makin besar pula jumlah perubahan frinji. Tebal lapisan tipis ZnO hasil penelitian ini adalah sebesar (6,0 ±,8) 0-5 m. PEDAHULUA ZnO (seng oksida) merupakan semikonduktor II-VI dengan band-gap lebar, yaitu E g = 3,3 ev []. Beberapa tahun terakhir, terdapat peningkatan penelitian berkenaan aplikasi ZnO, sehingga menjadikan lapisan tipis ZnO dipertimbangkan sebagai pesaing ITO (indium tin oxide) dalam penggunaannya sebagai elektroda transparan []. Lapisan tipis logam oksida memiliki aplikasi yang luas, antara lain alat gelombang akustik permukaan (surface acoustic wave devices/saw), alat gelombang bulk akustik (bulk acoustic wave devices/baw), alat optik-akustik (acoustic-optic devices), sistem mikroelektromekanik (micro-electromechanical systems), filter lolos pita (band pass filters), pandu gelombang optik (optical wave-guide) dan deflektor laser yang menggunakan kesifatan piezolektrik dan piezooptik [3]. Studi terakhir yang berkaitan dengan penentuan tebal lapisan ZnO pada kaca preparat berlapis ZnO menggunakan 06

interferometer Michelson dilakukan oleh Muhamad Adi, berupa kaca preparat dengan tebal mm berlapis ZnO, didapat pengukuran sebesar 5,4 0-5 m [4], namun hasil tersebut merupakan nilai ratarata berdasarkan perbandingan nilai koefisien magnetooptis terukur. Dalam penelitian ini digunakan interferometer Michelson untuk mendapatkan tebal lapisan bahan transparan ZnO yang melekat pada kaca preparat. Jumlah perubahan frinji dihitung dengan merotasikan sampel. Karena sampel melekat pada kaca preparat, maka pengukuran menggunakan metode dua lapis. Gambar mengilustrasikan konfigurasi Interferometer Michelson. Berkas cahaya dari sumber S mengenai cermin pemecah berkas di M, sehingga cahaya terbagi menjadi dua gelombang. Berkas pertama diteruskan menuju cermin M, yang lain dipantulkan menuju ke M. Oleh masing-masing cermin, kedua sinar ini direfleksikan kembali ke arah datangnya, dan akhirnya berinterferensi pada layar dengan pola lingkaran gelap terang. Bila M digeser sehingga sehingga cincin terang pertama berubah menjadi pusat pola (interferensi), maka lintasan cahaya yang menumbuk M telah berubah sebesar satu panjang gelombang. Karena cahaya dua kali (bolak-balik) melalui lintasan udara yang sama, maka cermin M telah mundur sejauh setengah panjang gelombang. Berubahnya cincin terang pertama menjadi pusat terang tersebut mengindikasikan adanya perubahan beda fase dan perubahan beda lintasan optis d, diberikan oleh persamaan [5] : kd d. () Secara umum, beda fase merupakan kelipatan bulat sebesar: m, m 0,,,... () Metode Satu Lapis Penentuan jumlah perubahan frinji dapat dilakukan dengan memutar kaca preparat sebesar (gambar ) secara perlahan sehingga beda lintasan optis merupakan fungsi tebal kaca preparat t, sudut datang dan indeks bias kaca preparat n. Hubungan antara terhadap pada kaca preparat adalah [6,7]: t n sin t sin t tn (3) Indeks bias n dalam persamaan (3) dapat ditentukan bila tebal kaca preparat t, sudut datang dan jumlah perubahan frinji diketahui [6], yang dinyatakan oleh : n t cos t cos t 4 (4) Gambar Skema Interferometer Michelson 06

Gambar.3 Penentuan indeks bias kaca preparat menggunakan interferometer Michelson Metode Dua Lapis Persamaan (3) atau (4) tidak dapat digunakan dalam penentuan tebal bahan transparan ZnO, dalam penelitian ini, karena lapisan ZnO melekat pada kaca preparat, atau dengan kata lain terdapat dua lapisan yang berbeda dalam sampel lapisan bahan transparan yang digunakan yang digunakan. Gambar 3 memperlihatkan skema jalannya berkas untuk penentuan tebal x lapisan ZnO berindeks bias n, yang melekat pada kaca preparat menggunakan interferometer Michelson. Jumlah perubahan frinji atau transisi frinji pada kaca preparat berlapis ZnO sebagai fungsi sinus sudut datang, sin, dinyatakan oleh persamaan (5) berikut: tn sin t sin t n x x n x sin sin n t x...(5) Dengan memanipulasi persamaan (5), diperoleh tebal lapisan ZnO yaitu: t n sin cos n x (6) n sin cos n Gambar 3. Skema jalannya berkas pada dua sampel untuk penentuan tebal lapisan ZnO pada kaca preparat berlapis ZnO menggunakan Interferometer Michelson. n, n, t dan x berturut-turut adalah indeks bias kaca preparat, indeks bias lapisan ZnO, tebal kaca preparat dan tebal lapisan ZnO. METODE PEELITIA Besar sudut datang sinar laser yang digunakan untuk penentuan tebal lapisan ZnO pada kaca preparat adalah sebesar,, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, dan 0. Sinar laser yang digunakan berupa sinar laser He-e dengan 633 nm dan daya keluaran < mw. Skema peralatan yang digunakan dalam penelitian ini dapat dilukiskan seperti pada gambar 4 berikut: Gambar 4. Skema peralatan yang digunakan dalam penelitian,.sampel (kaca preparat dan kaca preparat-zno),.cermin-geser, 3.Kotak-dasar Interferometer Michelson, 4.Penunjuk sudut, 5.Cermin-atur, 6.Beam splitter, 7.Lensa positif, 8.Laser He-e, 9.Layar, 0.Mikrometer 07

HASIL DA PEMBAHASA Hubungan jumlah perubahan frinji, yang didapat dengan Interferometer Michelson, terhadap sinus sudut datang sinar laser He-e ternyata masih sesuai dengan hasil perhitungan sin. Pengujian kesesuaian hasil penelitian tersebut menggunakan persamaan (3), untuk kaca preparat, dan persamaan (4), untuk kaca preparat berlapis ZnO. 8,0 6,0 4,0,0 0,0 8,0 6,0 4,0,0 0,0 eksperimen 0,00 0,05 0,0 0,5 Sin perhitung an Gambar 5. Grafik hubungan jumlah perubahan frinji terhadap sinus sudut datang pada kaca preparat. Plot garis merah menyatakan hasil perhitungan menggunakan persamaan (3) sedangkan plot titik hitam dengan error bar menyatakan data eksperimen. Plot garis merah dalam gambar 5 mewakili hubungan jumlah perubahan frinji secara teori terhadap sinus sudut datang yang didapat dengan cara mensubstitusikan nilai t = 0-3 m, = 0,633 0-6 m, dan n =,470 [4], ke dalam persamaan (3). Secara umum berdasar gambar 5 pula, jumlah perubahan frinji (hasil pengukuran) mengalami peningkatan seiring bertambahnya besar sinus sudut datang sinar laser He-e pada kaca preparat. Terdapat peningkatan jumlah perubahan frinji secara signifikan untuk sin >0,085 pada kaca preparat. Peningkatan jumlah perubahan frinji yang makin besar pada sinus sudut-sudut datang tersebut menunjukkan beda lintasan optis d, yang dialami oleh sinar laser He-e yang menuju dan dari cermin-geser saat melalui kaca preparat yang diputar sebesar, semakin lebih besar. Akibat terjadi peningkatan beda lintasan optis d, peningkatan beda fase antara kedua sinar laser. Plot kurva garis biru dalam gambar 6, yang mewakili hubungan antara jumlah perubahan frinji (menurut teori) dengan sinus sudut datang, didapat dengan cara mensubstitusikan nilai tebal kaca preparat t pada bahan-transparan-uji berupa kaca preparat berlapis ZnO (0-3 m), panjang gelombang laser He-e yang digunakan (0,633 0-6 m), indeks bias kaca preparat n referensi,,470 [4], indeks bias ZnO n referensi (,9, [8]), tebal x lapisan ZnO pada kaca preparat berlapis ZnO (5,4 0-5 0,0 8,0 6,0 4,0,0 0,0 8,0 6,0 4,0,0 eksperimen 0,0 0,00 0,05 0,0 0,5 Sin perhitunga n Gambar 6. Grafik hubungan jumlah perubahan frinji terhadap sinus sudut datang pada kaca preparat berlapis ZnO. Plot garis biru menyatakan hasil perhitungan dari teori menggunakan persamaan (4), sedangkan plot titik hitam dengan error bar menyatakan data eksperimen m [4]), ke dalam persamaan (4). Hasil pengukuran, seperti halnya pada kaca preparat, jumlah perubahan frinji mengalami peningkatan seiring bertambahnya besar sinus sudut datang sinar laser He-e pada kaca preparat berlapis ZnO. Jumlah perubahan frinji, akibat kaca preparat berlapis ZnO diputar 06

sebesar, mengalami peningkatan secara signifikan untuk sin >0,065. Hanya saja, jumlah perubahan frinji pada kaca preparat berlapis ZnO lebih besar bila dibandingkan dengan jumlah perubahan frinji pada kaca preparat, seperti yang diperlihatkan dalam gambar 6. Peningkatan jumlah perubahan frinji pada kaca preparat berlapis ZnO lebih besar daripada peningkatan jumlah perubahan frinji pada kaca preparat tunggal, karena sinar laser He-e, yang menuju dan dari cermin-geser, melalui kaca preparat dan lapisan tipis ZnO yang diputar sebesar. Masing-masing bahan transparan tersebut memiliki indeks bias, berturut-turut, sebesar,470 [4] dan,9 [8]. Akibatnya, terdapat penambahan beda lintasan optis d dan peningkatan beda fase yang lebih besar antara kedua sinar laser He-e yang saling berinterferensi pada layar. Timbulnya transisi frinji sebesar pada layar tersebut (gambar 7), akibat suatu bahan transparan diputar sebesar,,..., 0 (dari 0 hingga ) sehingga sudut datang sinar laser He-e dari beam splitter yang jatuh pada kedua bahantransparan-uji berharga, mengindikasikan adanya perubahan beda fase antara kedua sinar laser He-e yang saling berinterferensi pada layar tersebut karena dsin. Perubahan tersebut mengalami peningkatan positif (bertambah besar) bila terdapat pemanjangan beda lintasan optis d. (a) (b) Gambar 7. Sistem frinji untuk kaca preparat (a) pada 0 (b) pada 6 (a) (b) Gambar 8. Sistem frinji untuk kaca preparat berlapis ZnO (a) pada 0 (b) pada 6 Gambar 7 memperlihatkan bahwa untuk kaca preparat, cincin-cincin gelap dan terang dalam sistem frinji akhir, pada 6, kembali menempati daerah yang ditempati oleh cincin-cincin gelap dan terang dalam sistem frinji awal, pada 0. Hal ini mengindikasikan bahwa jumlah perubahan frinji berkelipatan bilangan bulat, 6,0 ± 0,5, dan oleh karena itu, terdapat terdapat yang berkelipatan. Seperti halnya gambar 7, tidak terdapat perbedaan antara sistem frinji awal, pada 0, dan akhir, pada 6 untuk kaca preparat berlapis ZnO seperti yang diperlihatkan dalam gambar 8. Hal ini mengindikasikan bahwa jumlah perubahan frinji berkelipatan bilangan bulat, 6,0 ± 0,5, dan oleh karena itu, juga terdapat terdapat yang berkelipatan. Tebal lapisan tipis ZnO pada kaca preparat hasil penelitian ini, (6,0 ±,8) 0-5 m, lebih besar daripada yang diperoleh Muhamad Adi; yaitu 5,4 0-5 m [4]. Hubungan jumlah perubahan frinji hasil eksperimen terhadap sinus sudut datang sinar laser He-e pada kaca preparat berlapis ZnO digunakan untuk menentukan tebal lapisan ZnO x pada kaca preparat. Persamaan (.8) digunakan dalam penentuan tebal lapisan tipis ZnO x dengan mensubstitusikan indeks bias referensi ZnO n (,9, [8]), indeks bias referensi kaca peparat n (,470 [4]), tebal kaca preparat t (0-3 m), panjang gelombang laser He-e yang digunakan (0,633 0-6 m) dan jumlah perubahan 07

frinji (yang didapat dari percobaan) pada sinus sudut datang yang bersesuaian. KESIMPULA Dari hasil dan pembahasan maka didapat kesimpulan sebagai berikut :. Transisi frinji atau jumlah perubahan frinji mengalami peningkatan seiring penambahan beda lintasan optis pada bahan transparan dan hasil teoritis sesuai dengan hasil eksperimen.. Tebal lapisan tipis ZnO pada kaca preparat hasil penelitian ini adalah sebesar (6,0 ±,8) 0-5 m. DAFTAR PUSTAKA [] Hummel, R.E., 993, Electronic Properties of Materials, Springer- Verlag, ew York [] Larciprete, M.C., Passeri, D., Michelotti, F., Paoloni, S., Sibilia, C., Bertolotti, M., Belardini, A., Sarto, F., Somma, F., Lo Mastro, S., 005, Second Order onlinear Optical Properties of Zinc Oxide Films Deposited by Low Temperature Dual Ion Beam Sputtering, Journal of Applied Physics, omor 97 : 350 [3] Eya, D.D.O, Ekpunobi, A.J., dan Okeke, C.E., 005. Structural and Optical Properties and Applications of Zinc Oxide Thin Films Prepared by Chemical Bath Deposition Technique, The Pacific Journal of Science and Technology, Volume 6, omor : 6 [4] Adi, M., 006, Studi Efek Magneto Optis Pada Lapisan Tipis (ZnO) Mnggunakan Interferometer Michelson, Skripsi S, Universitas Diponegoro, Semarang [5] Hecht, E., 987, Optics, nd ed, Addison-Wesley Publishing Co., Reading, Mass. [6] Morgan, J., 953, Introduction to Geometrical and Physical Optics, McGraw-Hill Book Company, Inc., ew York [7] Jenkins, F.A. dan White, H.E., 976, Fundamentals of Optics, 4th ed, McGraw-Hill, Inc., ew York [8] http://www.mticrystal.com/ii- IV.html. 5 Agustus 006 06